特許

J-GLOBAL ID：200903026488866707

ATM交換機における集中試験装置

発明者： 足立 博 ,  江口 信彦 ,  工藤 裕之
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 石田 敬 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-172530
公開番号（公開出願番号）：特開平8-037527
出願日： 1994年07月25日
公開日（公表日）： 1996年02月06日
要約：

【要約】【目的】 ATM交換機に関し、特にATM交換機における特定回線やパス等を流れるセルのモニタ試験やトラヒック測定等が集中的に行えるATM交換機の集中試験装置を提供する。【構成】 所定の局内装置に接続される所定の回線上若しくは交換機内パス上を流れるセルの試験を指示する試験指示手段;試験指示手段からの指示に従ってセルの宛て先ヘッダ情報を試験装置の宛て先ヘッダ情報に変更して送出する宛て先変更手段;宛て先変更手段から出力されたセルをそのヘッダ情報に従って所定の局内装置へ導くスイッチング手段;そしてスイッチング手段から受信した前記セルをモニタすることでセルの試験を集中して行う試験手段から構成する。

請求項（抜粋）：

所定の局内装置に接続される所定の回線上若しくは交換機内パス上を流れるセルの試験を指示する試験指示手段、前記試験指示手段からの指示に従って前記セルの宛て先ヘッダ情報を局内装置として固定的に設置された試験装置の宛て先ヘッダ情報に変更して送出する前記所定の局内装置における宛て先変更手段、前記所定の局内装置における宛て先変更手段から出力されたセルをそのヘッダ情報に従って所定の局内装置へ導くスイッチング手段、そして前記スイッチング手段から受信した前記セルをモニタすることにより前記所定の局内装置に接続される所定の回線上若しくは交換機内パス上を流れるセルの試験を集中して行う前記試験装置における試験手段から構成することを特徴とするATM交換機における集中試験装置。

IPC (4件)：

H04L 12/26 ,  H04L 12/28 ,  H04M 3/26 ,  H04Q 3/00

FI (2件)：

H04L 11/12 ,  H04L 11/20 D