特許

J-GLOBAL ID：200903026514220659

電子部品観察装置及び電子部品観察方法

発明者： 藤代 恵介 ,  高田 浩二 ,  野口 謙一 ,  後藤 峰彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-292939
公開番号（公開出願番号）：特開平8-153997
出願日： 1994年11月28日
公開日（公表日）： 1996年06月11日
要約：

【要約】【目的】 バンプ付電子部品について正確な観察を行える電子部品観察装置を提供することを目的とする。【構成】 バンプ付電子部品1を観察するカメラ8と、背景板16を明るく照らす第1の光源と、バンプ4を明るく照らす第2の光源とを有する。

請求項（抜粋）：

本体部と、前記本体部の下面に設けられた基板部と、前記基板部の下面に複数設けられた略球体状のバンプとを備えるバンプ付電子部品を、このバンプ付電子部品の背後に背景板を位置させた状態で観察する電子部品観察装置であって、前記バンプ付電子部品を観察するカメラと、前記背景板を明るく照らす第1の光源と、前記バンプを明るく照らす第2の光源とを有することを特徴とする電子部品観察装置。