特許

J-GLOBAL ID：200903026544582890

光加入者線終端装置

発明者： 工藤 洋介 ,  永田 武 ,  矢田部 英昭
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 青木 輝夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-100286
公開番号（公開出願番号）：特開2002-300121
出願日： 2001年03月30日
公開日（公表日）： 2002年10月11日
要約：

【要約】【課題】 光加入者線終端装置(ONU)内にテストパターンを発生するクロック発生部を設けることで、マルチチャネルジェネレータ等の高価な専用測定器を用いることなく光モジュールの調整検査を経済的に、かつ簡易に行なう。【解決手段】 Ether/PDS-LSI10内のCPU部15は、調整検査用PC24から供給される光モジュール調整モード指令に基づいて、変換回路16に光モジュール調整モードでの動作を指示する。変換回路16は、光モジュール部(LD/PD)3の調整検査を行なうためのテストパターン及びクロックを発生してテストモード回路11に供給する。これにより、アナログICインタフェース回路12及びアナログIC2を介して光モジュール部3内のレーザダイオードが駆動され、テストパターンに対応した光信号が送出される。パターン指定データに基づいて発生させるテストパターンを選択できる。

請求項（抜粋）：

光加入者線路のユーザ側に設置される光加入者線終端装置であって、前記光加入者線路を介して指令されるテスト指令信号を解読して光モジュール部の調整検査を行なうためのテストパターン、クロック発生及び停止を制御するテスト制御部と、前記テスト制御部からの制御信号に基づいて前記テストパターンおよびクロック発生を行なうテストパターン発生部と、を備えたことを特徴とする光加入者線終端装置。

IPC (4件)：

H04B 17/00 ,  G01M 11/00 ,  H04B 10/22 ,  H04B 10/00

FI (3件)：

H04B 17/00 T ,  G01M 11/00 Q ,  H04B 9/00 A

Fターム (12件)：

2G086BB01 ,  5K002AA05 ,  5K002BA13 ,  5K002DA12 ,  5K002EA06 ,  5K002FA01 ,  5K002GA03 ,  5K042AA03 ,  5K042BA01 ,  5K042CA10 ,  5K042EA03 ,  5K042JA10