特許

J-GLOBAL ID：200903026554873957

蛍石及びその分析法、製造法、光学特性評価法

発明者： 大久保 顕治
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 藤元 亮輔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-205469
公開番号（公開出願番号）：特開2003-021619
出願日： 2001年07月05日
公開日（公表日）： 2003年01月24日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、従来法に比べ数段高感度な蛍石分析法を提供する。【解決手段】 本発明の一側面としての分析方法は、蛍石試料の溶液化、多量共存物(Ca、F及び溶解に用いた溶媒など)の除去、及び残る含有不純物元素の濃縮過程を持つ試料前処理法と、分析装置としてICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析装置)を用いることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

蛍石に適用される含有不純物元素分析法であって、蛍石試料の溶液化、多量共存物(Ca、F及び溶解に用いた溶媒など)の除去、及び残る含有不純物元素の濃縮過程を持つ試料前処理法と、分析装置としてICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析装置)を用いることを特徴とする分析法。

IPC (4件)：

G01N 27/62 ,  C30B 29/12 ,  G01N 1/28 ,  G02B 1/02

FI (4件)：

G01N 27/62 V ,  C30B 29/12 ,  G02B 1/02 ,  G01N 1/28 X

Fターム (9件)：

2G052AA21 ,  2G052AD21 ,  2G052AD46 ,  2G052FD09 ,  2G052GA24 ,  4G077AA02 ,  4G077BE02 ,  4G077GA05 ,  4G077HA01