特許

J-GLOBAL ID：200903026677228975

表面反射特性測定装置

発明者： 吉田 健一郎 ,  小島 伸俊 ,  津村 徳道 ,  本間 隆介 ,  高瀬 紘一 ,  三宅 洋一
出願人/特許権者： 花王株式会社 ,  国立大学法人 千葉大学
代理人 (2件)： 羽鳥 修 ,  松嶋 善之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-184978
公開番号（公開出願番号）：特開2009-020080
出願日： 2007年07月13日
公開日（公表日）： 2009年01月29日
要約：

【課題】測定対象の三次元の表面反射特性を好適に測定することができる表面反射特性測定装置を提供すること。【解決手段】本発明の表面反射特性測定装置は、測定対象10の光反射特性情報測定手段1Aと、測定対象10の三次元形状情報測定手段1Bと、測定対象10の法線情報測定手段1Cとを具備する。光反射特性情報測定手段1Aは、測定対象10を臨む特定の軌道で移動可能に垂設され測定対象10に線状の光を照射する可動光源2と、前記軌道に沿って移動させながら可動光源2から測定対象10に光が照射された状態を撮像するように配設された撮像手段3と、撮像手段3で撮像された測定対象10の前記状態の画像データに基づいて、測定対象10の光反射特性情報を求める情報処理手段4とを備えている。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象の光反射特性情報測定手段と、前記測定対象の三次元形状情報測定手段と、前記測定対象の法線情報測定手段とを具備する表面反射特性測定装置であって、 前記光反射特性情報測定手段は、 前記測定対象を臨む軌道上で移動可能に垂設され前記測定対象に線状の光を照射する可動光源と、 前記軌道に沿って移動させながら前記可動光源から前記測定対象に光が照射された状態を撮像するように配設された撮像手段と、 前記撮像手段で撮像された前記測定対象の前記状態の画像データに基づいて、前記測定対象の光反射特性情報を求める情報処理手段とを備えている表面反射特性測定装置。

IPC (6件)：

G01N 21/17 ,  G06T 1/00 ,  G01N 21/47 ,  G01N 21/57 ,  G01B 11/26 ,  G01B 11/25

FI (6件)：

G01N21/17 A ,  G06T1/00 430G ,  G01N21/47 Z ,  G01N21/57 ,  G01B11/26 H ,  G01B11/25 H

Fターム (40件)：

2F065AA35 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF06 ,  2F065FF09 ,  2F065FF44 ,  2F065GG07 ,  2F065GG13 ,  2F065HH07 ,  2F065HH12 ,  2F065HH13 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL33 ,  2F065NN02 ,  2F065QQ18 ,  2G059AA02 ,  2G059BB08 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059FF02 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK04 ,  2G059MM01 ,  5B047AA07 ,  5B047BA02 ,  5B047BB04 ,  5B047BC04 ,  5B047BC12 ,  5B047BC14 ,  5B047BC23 ,  5B047CA05 ,  5B047CA19 ,  5B047CB22

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 三次元物体の計測方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-138054   出願人：花王株式会社
• 3次元形状測定方法及び測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-090427   出願人：シチズン時計株式会社, 有限会社ソフトロン
• 3次元色形状検出装置及び3次元スキャナー
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-374382   出願人：ブラザー工業株式会社
• 表面性状評価装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-212134   出願人：倉敷紡績株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• “Compact and Low Cost System for the Measurement of Accurate 3D Shape and Normal”