特許

J-GLOBAL ID：200903026740773725

光パルス試験器の波形雑音除去及び接続点検出方法

発明者： フィン コンサン
出願人/特許権者： 安藤電気株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-042324
公開番号（公開出願番号）：特開平5-215637
出願日： 1992年01月31日
公開日（公表日）： 1993年08月24日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】 光パルス試験器(OTDR)の光ファイバ後方散乱強度を示す波形をハフ変換することににより、OTDRの波形雑音の除去方法と、OTDRの接続点検出方法を提供する。【構成】 ハフ変換処理手段6AはOTDRの光ファイバ後方散乱光強度を示す波形を入力とし、中央値フィルタ処理手段6Bはハフ変換処理手段6Aの出力を入力とし、雑音を除去する。ハフ逆変換手段6Cは中央値フィルタ処理手段6Bの出力を入力とし、ハフ逆変換をし、元の波形に戻す。

請求項（抜粋）：

光パルス試験器の光ファイバ後方散乱光強度を示す波形を入力とするハフ変換処理手段(6A)と、ハフ変換処理手段(6A)の出力を入力とする中央値フィルタ処理手段(6B)と、中央値フィルタ処理手段(6B)の出力を入力とし、ハフ逆変換をするハフ逆変換処理手段(6C)とを備えることを特徴とする光パルス試験器の波形雑音除去方法。

IPC (3件)：

G01M 11/00 ,  G06F 15/31 ,  G06F 15/332