特許
J-GLOBAL ID:200903026760203119

部品装着装置及びその装置における撮像手段の光軸オフセット量測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岡▲崎▼ 信太郎 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-034730
公開番号(公開出願番号):特開2000-236198
出願日: 1999年02月12日
公開日(公表日): 2000年08月29日
要約:
【要約】【課題】 簡易な構成で撮像手段の光軸オフセット量を精度よく測定することができる部品装着装置及び光軸オフセット量測定方法を提供すること。【解決手段】 第2の撮像部の開口部が、装着手段の装着軸上に位置するように撮像手段を移動させ、そのときの撮像手段の位置を第1の位置として記憶する。載置手段に予め載置されている校正用治具の校正用マークが、第1の撮像部の光軸上に位置するように載置手段を微小移動させ、撮像手段を移動退避させる。装着手段を移動させて校正用治具を載置手段から装着手段に受け渡させる。撮像手段を第1の位置へ移動させ、校正用マークが、第2の撮像部の光軸上に位置するように撮像手段を微小移動させ、そのときの撮像手段の位置を第2の位置として記憶する。そして、第1の位置と第2の位置の差を求めて撮像手段における光軸オフセット量として記憶する。
請求項(抜粋):
部品を基板に装着する部品装着装置において、直交2軸方向(X方向、Y方向)に移動可能であり、前記基板を載置する載置手段と、直交2軸に直交する方向(Z方向)に移動可能であり、前記部品を前記載置手段に載置されている前記基板に装着する装着手段と、直交3軸方向(X方向、Y方向、Z方向)に移動可能であり、前記載置手段に載置されている前記基板を認識する第1の撮像部及び前記装着手段に装着されている前記部品を認識する第2の撮像部を有し、前記各撮像部の開口部が同軸上に配設されている撮像手段と、前記各手段を制御して、前記各撮像部の光軸オフセット量を測定すると共に、その光軸オフセット量に基づいて前記装着手段に装着されている前記部品を前記載置手段に載置されている前記基板に装着する制御手段とを備え、前記制御手段は、前記第2の撮像部の開口部が、前記装着手段の装着軸上に位置するように前記撮像手段を移動させ、そのときの前記撮像手段の位置を第1の位置として記憶し、前記載置手段に予め載置されている校正用治具の校正用マークが、前記第1の撮像部の光軸上に位置するように前記載置手段を微小移動させ、前記撮像手段を移動退避させ、前記装着手段を移動させて前記校正用治具を前記載置手段から前記装着手段に受け渡させ、前記撮像手段を前記第1の位置へ移動させ、前記校正用マークが、前記第2の撮像部の光軸上に位置するように前記撮像手段を微小移動させ、そのときの前記撮像手段の位置を第2の位置として記憶し、前記第1の位置と第2の位置の差を求めて前記撮像手段における前記光軸オフセット量として記憶することを特徴とする部品装着装置。
IPC (2件):
H05K 13/08 ,  H05K 13/04
FI (2件):
H05K 13/08 Q ,  H05K 13/04 M
Fターム (21件):
5E313AA02 ,  5E313AA11 ,  5E313AA23 ,  5E313CC03 ,  5E313CC04 ,  5E313DD02 ,  5E313DD03 ,  5E313DD13 ,  5E313DD21 ,  5E313EE02 ,  5E313EE03 ,  5E313EE24 ,  5E313EE33 ,  5E313EE35 ,  5E313EE37 ,  5E313FF24 ,  5E313FF26 ,  5E313FF28 ,  5E313FF29 ,  5E313FF31 ,  5E313FF32

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