特許
J-GLOBAL ID:200903026768834886

光導波路センサ装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 青山 葆 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-216816
公開番号(公開出願番号):特開平6-066520
出願日: 1992年08月14日
公開日(公表日): 1994年03月08日
要約:
【要約】【目的】 機械的又は電気的走査機構を設ける必要がなく、従来例に比較して高い精度で光ビームの位置ずれ量とその方向を検出することができるセンサ装置を提供する。【構成】 それぞれ受信された光信号の光ビームを受光する各端面が互いに近接して配置されてなる複数の光導波路を有する光導波路センサと、上記複数の光導波路の各他端面から出力される各光信号を検波して上記各光信号の電力に比例する電気信号にそれぞれ変換する複数の検波器と、上記複数の検波器から出力される各電気信号に基づいて、上記複数の光導波路の各端面上に設けられた所定の検出基準点からの、上記受信された光信号の光ビームの位置のずれ量とその方向を演算する演算回路とを備える。
請求項(抜粋):
それぞれ受信された光信号の光ビームを受光する各端面が互いに近接して配置されてなる複数の光導波路を有する光導波路センサと、上記複数の光導波路の各他端面から出力される各光信号を検波して上記各光信号の電力に比例する電気信号にそれぞれ変換する複数の検波手段と、上記複数の検波手段から出力される各電気信号に基づいて、上記複数の光導波路の各端面上に設けられた所定の検出基準点からの、上記受信された光信号の光ビームの位置のずれ量とその方向を演算する演算手段とを備えたことを特徴とする光導波路センサ装置。
IPC (2件):
G01B 11/00 ,  G02B 6/12
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特公昭45-023114
  • 特公昭45-023114
  • 特開平3-092732

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