特許

J-GLOBAL ID：200903026787790199

光学装置

発明者： 水野 剛
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-273549
公開番号（公開出願番号）：特開平11-096571
出願日： 1997年09月19日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】 装置全体の、小型化を図ると共に、様々なピット深さの光学記録媒体に対してトラッキング信号が安定して得られ、半導体プロセスによる製造が容易な光学装置の提供。【解決手段】 反射面に光学記録媒体から成る被照射部2と、半導体レーザLDと、三角柱状の半導体構造4と、光検出素子PDとが、同一半導体基体1に形成された半導体部7と、半導体レーザLDからの発射光LF を被照射部2に収束照射し、更に被照射部2から反射された戻り光LR を収束させる収束手段3とを有し、三角柱状の半導体構造4は、半導体レーザLDからの発射光LF を反射させる第1の反射面M1 と、収束手段3からの戻り光LR の一部を光検出素子PDに照射させる第2の反射面M2 を有して成り、光学記録媒体に形成されたピットの一方のピットエッジからの回折光による第1の検出信号と、ピットの他方のピットエッジからの第2の検出信号とを演算して、トラッキングエラー信号TEを得る光学装置10を構成する。

請求項（抜粋）：

反射面にピットが形成された光学記録媒体から成る被照射部と、半導体レーザと、三角柱状の半導体構造と、光検出素子とが、同一半導体基体に形成された半導体部と、上記半導体レーザからの発射光を上記被照射部に収束照射し、更に上記被照射部から反射された戻り光を収束させる収束手段とを有し、上記三角柱状の半導体構造は、上記半導体レーザからの発射光を反射させる第1の反射面と、上記収束手段からの戻り光の一部を上記光検出素子に照射させる第2の反射面を有して成り、上記三角柱状の半導体構造の上記第1の反射面及び第2の反射面は、上記収束手段の焦点面近傍に形成され、上記光検出素子によって検出した、上記光学記録媒体に形成された上記ピットの一方のピットエッジからの回折光による第1の検出信号と、該ピットの他方のピットエッジからの回折光による第2の検出信号とを演算することによって、トラッキングエラー信号を得るようにしたことを特徴とする光学装置。

IPC (4件)：

G11B 7/09 ,  G02B 7/28 ,  G11B 7/135 ,  H01S 3/18

FI (4件)：

G11B 7/09 C ,  G11B 7/135 Z ,  H01S 3/18 ,  G02B 7/11 L

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光学装置及び記録媒体再生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-037017   出願人：ソニー株式会社
• 特開昭59-110044
  
• 特開昭59-198539