特許
J-GLOBAL ID：200903026803653407
プロセス機器診断方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-076807
公開番号（公開出願番号）：特開2003-280734
出願日： 2002年03月19日
公開日（公表日）： 2003年10月02日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 プロセス配管の異常、センサ手段の感度低下、プロセス時定数の判定を可能としたプロセス機器診断方法及びその装置を提供する。【解決手段】プロセス配管手段で移送される流体の物理量を測定するセンサ手段と、前記流体の流量を制御する操作手段とを有する制御システムにおいて、前記操作手段を強制的に複数回オンオフさせた時の前記センサ手段の応答のタイムラグを統計処理で算出し、過去のタイムラグと比較することにより、前記プロセス配管手段の状態を診断する。また、前記センサ手段の応答を一次遅れ系と仮定した式を最小二乗法により同定し、応答感度並びにプロセス時定数を算出する。
請求項（抜粋）：
プロセス配管手段で移送される流体の物理量を測定するセンサ手段と、前記流体の流量を制御する操作手段とを有する制御システムに設定されるプロセス機器診断方法において、(a)前記操作手段を強制的に複数回オンオフさせ、前記センサ手段の応答のピークとなる時間を検出するステップ、(b)前記操作手段のオンオフ時間との差を統計処理してタイムラグを算出するステップ、(c)算出された前記タイムラグを、過去のタイムラグと比較することにより、前記プロセス配管手段の状態を診断するステップとを有すること特徴とするプロセス機器診断方法。
Fターム (7件)：
5H223AA01
, 5H223BB01
, 5H223CC08
, 5H223EE02
, 5H223EE05
, 5H223EE06
, 5H223FF05
