特許

J-GLOBAL ID：200903026831042901

測距装置

発明者： 稲葉 直人 ,  長沢 昌弥
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 大西 正悟
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-325985
公開番号（公開出願番号）：特開2003-130953
出願日： 2001年10月24日
公開日（公表日）： 2003年05月08日
要約：

【要約】【課題】 測定光を用いた測距装置において、遠距離計測による反射光の弱まり等の影響を受けにくくし、精度のよい測距装置を提供する【解決手段】 本発明によれば、距離に応じて測定光出射器の出射強度を増加させたり、反射光受光器の受光感度を増加させて受光のカウント数を増加させることができるので、被測定物が近くにあっても、遠くにあっても被測定物からの反射光とランダムにやってくるノイズ光とを明確に分離できるので精度のよい測距装置を提供することができる。

請求項（抜粋）：

パルス状の測定光を被測定物に向かって出射する測定光出射器と、前記被測定物から反射されてくる反射光を受光する反射光受光器と、前記測定光出射器から出射される前記測定光の出射強度および前記反射光受光器の受光感度の少なくとも一方を制御するコントローラと、前記測定光が出射されたときから前記反射光が受光されるまでの経過時間に基づいて前記被測定物までの距離を求める距離算出器とを備え、前記コントローラは、前記被測定物までの概略の距離に応じて前記出射強度および前記受光感度の少なくとも一方を変化させることを特徴とする測距装置。

IPC (3件)：

G01S 17/10 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/40

FI (4件)：

G01S 17/10 ,  G02B 7/11 N ,  G02B 7/11 H ,  G02B 7/11 F

Fターム (15件)：

2H051BB27 ,  2H051CC03 ,  2H051CC10 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA04 ,  5J084BA36 ,  5J084BB01 ,  5J084BB04 ,  5J084CA03 ,  5J084CA23 ,  5J084CA32 ,  5J084DA01 ,  5J084DA07 ,  5J084EA01