特許

J-GLOBAL ID：200903026835041918

検査システム

発明者： 高澤 徹
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 山下 亮一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-014375
公開番号（公開出願番号）：特開2003-210448
出願日： 2002年01月23日
公開日（公表日）： 2003年07月29日
要約：

【要約】【目的】 検査モジュールのタイプを自動的に識別し、該検査モジュールに応じた検査メニューが存在するか否かを判断することができる検査システムを提供すること。【構成】 被験者固有の物理量を検出する少なくとも1つ以上の検査モジュールと、前記検査モジュールを制御するための制御パラメータ、或は前記検査モジュールから取得した検査情報の処理のための処理パラメータがプリセットされている少なくとも1つ以上の検査設定アイコンが含まれる検査メニュ-を持つ検査システムにおいて、前記検出モジュールのタイプを識別する手段を持ち、前記検査モジュールのタイプに対応する前記検査メニューが存在するか判断する手段を持つ。前記検査モジュールに対応する検査メニューが存在しない場合、又は前記検出モジュールのタイプを識別する手段により異常な検査タイプが選択された場合、警告を表示する手段を持つ。

請求項（抜粋）：

被験者固有の物理量を検出する少なくとも1つ以上の検査モジュールと、前記検査モジュールを制御するための制御パラメータ、或は前記検査モジュールから取得した検査情報の処理のための処理パラメータがプリセットされている少なくとも1つ以上の検査設定アイコンが含まれる検査メニュ-を持つ検査システムにおいて、前記検出モジュールのタイプを識別する手段を持ち、前記検査モジュールのタイプに対応する前記検査メニューが存在するか判断する手段を持つことを特徴とする検査システム。

IPC (2件)：

A61B 6/00 320 ,  A61B 6/00

FI (2件)：

A61B 6/00 320 M ,  A61B 6/00 320 Z

Fターム (15件)：

4C093AA01 ,  4C093CA16 ,  4C093EA02 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093EE01 ,  4C093FA06 ,  4C093FA12 ,  4C093FA13 ,  4C093FA42 ,  4C093FB11 ,  4C093FB12 ,  4C093FH06 ,  4C093FH10