特許
J-GLOBAL ID：200903026857261733
縦方向に移動するアクチュエータの位置を検出するための強化された方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
社本 一夫 (外5名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-581053
公開番号（公開出願番号）：特表2003-532095
出願日： 2001年05月01日
公開日（公表日）： 2003年10月28日
要約：
【要約】アクチュエータの位置を検出するシステムおよび方法が考察されている。本発明の一態様は、アクチュエータの位置を検出するためのシステムを備えている。アクチュエータの位置を検出するためのシステムは、アクチュエータに結合された、磁界を放射する磁気源と、磁界の角度に基づいた応答を生成する少なくとも2つのセンサと、センサの応答を受け取り、磁気源の強化された位置を生成するためのアナライザとを備えている。このような分析は、少なくとも2つのセンサの調整不良に起因する望ましくない影響が存在する中で実行される。本発明の他の態様には、アクチュエータの位置を検出するための方法が含まれている。アクチュエータの位置を検出するための方法には、量を形成するために少なくとも2つのセンサの応答を補間するステップが含まれている。量は、アクチュエータに結合された磁気源の位置を表している。アクチュエータの位置を検出するための方法には、さらに、2つの補償技法のうちの1つを選択することによって磁気源の位置を表す量を調整するステップが含まれている。補償技法の1つは、応答曲線の最大勾配に基づいている。もう1つの補償技法は、応答曲線に対する立方適合の最小分離に基づいている。
請求項（抜粋）：
前記アクチュエータに結合された、磁界を放射する磁気源と、 前記磁界の角度に基づく応答を生成する、少なくとも2つのセンサと、 前記応答を受け取り、前記少なくとも2つのセンサの調整不良に起因する望ましくない影響が存在する中で、前記磁気源の強化された位置を生成するアナライザと、を備えるアクチュエータの位置を検出するシステム。
Fターム (5件)：
2F077AA11
, 2F077AA20
, 2F077CC02
, 2F077JJ23
, 2F077UU00
