玄米の粒厚選別制御装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-210078
公開番号（公開出願番号）：特開平6-055143
出願日： 1992年08月06日
公開日（公表日）： 1994年03月01日
要約：

【要約】【目的】整粒の粒径分布に基づく穀物品位を測定することにより差別化をはかる。【構成】所定目合の粒厚選別機2を備え荷受玄米を受けて粒厚選別する第1の選別部Aと、目合を当該第1選別部の上記粒厚選別機2よりも大でかつ相互に相違すべく設定した複数の粒厚選別機14a〜14cを備える第2選別部Bと、第1選別部Aからの整粒をサンプル粒とし粒厚を測定する外観検査器7からの測定データに基づき粒厚分布を演算しその結果に基づいて第2選別部Bにおける粒厚選別機14a〜14cのいずれかを選択設定する制御装置12とを設けることにより、第1選別部Aで屑粒を除去された整粒は、第2選別部Bに移されるが、このとき外観検査器7からのデータに基づく粒厚分布にて、第2選別部における粒厚選別機14a〜14c目合の選定が判断され粒厚が小さくかつ分布割合の少ない粒厚部分は更に除去して良質玄米化をはかる。

請求項（抜粋）：

所定目合の粒厚選別機2を備え荷受玄米を受けて粒厚選別する第1の選別部Aと、目合を当該第1選別部の上記粒厚選別部2よりも大でかつ相互に相違すべく設定した複数の粒厚選別機14a〜14cを備える第2選別部Bと、第1選別部Aからの整粒をサンプル粒とし粒厚を測定する外観検査器7からの測定データに基づき粒厚分布を演算しその結果に基づいて第2選別部Bにおける粒厚選別機14a〜14cのいずれかを選択設定する制御装置12とを設けてなる玄米の粒厚選別制御装置。

IPC (2件)：

B07C 5/34 , B07B 1/42

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭60-106576
特開平3-242272
特開昭60-106576

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