特許

J-GLOBAL ID：200903026916913367

漏電検知装置

発明者： 大石 正樹
出願人/特許権者： 矢崎総業株式会社
代理人 (1件)： 瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-049687
公開番号（公開出願番号）：特開2000-253565
出願日： 1999年02月26日
公開日（公表日）： 2000年09月14日
要約：

【要約】【課題】 簡単な構成の漏電検知装置を提供する。【解決手段】 電源に接続された第1電極、制御電極、および第2電極を有する第1半導体素子および第2半導体素子と、第1電極、制御電極、およびアースと接続された第2電極を有する第3半導体素子および第4半導体素子と、第1半導体素子の第2電極と第3半導体素子の第1電極間に負荷を接続し、第2半導体素子の第2電極とアース間に接続された第1抵抗と、第4半導体素子の第1電極と電源間に接続された第2抵抗と、第1および第2半導体素子の第2電極間の電圧差を出力する第1差電圧検出手段と、第3および第4半導体素子の第1電極間の電圧差を出力する第2差電圧検出手段と、第1および第2差電圧検出手段より出力される電圧の差より漏電を判定する判定手段と、を備える。

請求項（抜粋）：

共通の電源に接続された第1の電極、また共通の駆動回路に接続された制御電極、および第2の電極を有する第1の半導体素子および第2の半導体素子と、第1の電極、共通の駆動回路に接続された制御電極、およびアースと接続された第2の電極を有する第3の半導体素子および第4の半導体素子と、前記第1の半導体素子の前記第2の電極と前記第3の半導体素子の前記第1の電極間に負荷を接続し、前記第2の半導体素子の前記第2の電極とアース間に接続された第1の抵抗と、前記第4の半導体素子の前記第1の電極と前記電源間に接続された第2の抵抗と、前記第1および第2の半導体素子の前記第2の電極間の電圧差を出力する第1の差電圧検出手段と、前記第3および第4の半導体素子の前記第1の電極間の電圧差を出力する第2の差電圧検出手段と、前記第1および第2の差電圧検出手段より出力される電圧の差を検出し、該電圧の差が所定値以上となったとき漏電が発生と判定する判定手段と、を備えたことを特徴とする漏電検知装置。

IPC (3件)：

H02H 3/16 ,  G01R 31/02 ,  H01H 83/02

FI (3件)：

H02H 3/16 A ,  G01R 31/02 ,  H01H 83/02 E

Fターム (10件)：

2G014AA16 ,  2G014AB29 ,  2G014AB51 ,  5G004AA04 ,  5G004AB02 ,  5G004BA01 ,  5G004DC05 ,  5G004EA01 ,  5G030XX05 ,  5G030YY12