特許

J-GLOBAL ID：200903027001265297

測距装置

発明者： 長谷川 潤 ,  渡辺 英治
出願人/特許権者： 富士フイルムマイクロデバイス株式会社 ,  富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 高橋 敬四郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-330473
公開番号（公開出願番号）：特開平8-247758
出願日： 1995年12月19日
公開日（公表日）： 1996年09月27日
要約：

【要約】【課題】 位相差検出型の測距装置に関し、レンズとセンサの位置関係が少しずれている場合であっても、高精度の測距値を検出することができる測距装置を提供する。【解決手段】 被写体を空間的に異なる経路を経て結像させるための第1および第2のレンズと、各々が相互にほぼ平行な複数の画素の並びであり、前記第1のレンズにより結像される第1および第2の光センサアレイと、前記第2のレンズにより結像される複数の画素の並びであり、該各画素と前記第1の光センサアレイの各画素とを結ぶ直線が、前記第1および第2のレンズの各軸を結ぶ直線に対しある傾きを持つ第3の光センサアレイと、前記第1〜第3の光センサアレイにそれぞれ結像される像を基に、前記傾きによる誤差を修正し、前記第1のレンズにより結像される像と前記第2のレンズにより結像される像との間の位相差を検出し、被写体までの距離データを演算するための距離演算手段とを有する。

請求項（抜粋）：

被写体を空間的に異なる経路を経て結像させるための第1および第2のレンズと、各々が相互にほぼ平行な複数の画素の並びであり、前記第1のレンズにより結像される第1および第2の光センサアレイと、前記第2のレンズにより結像される複数の画素の並びであり、該各画素と前記第1の光センサアレイの各画素とを結ぶ直線が、前記第1および第2のレンズの各軸を結ぶ直線に対しある傾きを持つ第3の光センサアレイと、前記第1〜第3の光センサアレイにそれぞれ結像される像を基に、前記傾きによる誤差を修正し、前記第1のレンズにより結像される像と前記第2のレンズにより結像される像との間の位相差を検出するための位相差検出手段と、前記位相差検出手段により検出される位相差に応じて、被写体までの距離データを演算するための距離演算手段とを有する測距装置。

IPC (4件)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  G02B 7/34 ,  G03B 13/36

FI (4件)：

G01C 3/06 V ,  G01B 11/00 H ,  G02B 7/11 C ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平2-055912
  
• 特開平2-055912