特許

J-GLOBAL ID：200903027023366143

材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置

発明者： 宇野 博
出願人/特許権者： 株式会社鷺宮製作所
代理人 (1件)： 高橋 英生 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-269932
公開番号（公開出願番号）：特開2001-091428
出願日： 1999年09月24日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
要約：

【要約】【課 題】 材料試験の前処理工程および本工程における状態を継続して把握することができる材料試験装置におけるデータサンプル方法および材料試験装置を提供する。【解決手段】 材料試験装置は、材料試験片(1)に目標負荷を自動制御によりかける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行っている。そして、本工程においてサンプリングされた材料試験片に加わる荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間などを記憶する自動制御時用記憶部(57)、および、この第1記憶部とは別に、前記前処理工程、本工程および後処理工程においてサンプリングされた材料試験片に加わる荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間などを記憶する全工程用記憶部(56)を備えている。

請求項（抜粋）：

材料試験片に目標負荷を自動制御によりかける本工程と、この本工程より前の前処理工程と、前記本工程より後の後処理工程とからなる材料試験を行う材料試験装置におけるデータサンプル方法であって、前記本工程において、少なくとも、材料試験片に加わる荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、この荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶する第1サンプリングと、この第1サンプリングとは別に、前処理工程および本工程において、少なくとも、材料試験片に加わる荷重データおよび歪みデータをサンプリングして、この荷重データ、歪みデータおよびサンプリング時間を記憶する第2サンプリングとを行っていることを特徴とする材料試験装置におけるデータサンプル方法。

Fターム (5件)：

2G061DA03 ,  2G061EA01 ,  2G061EA04 ,  2G061EA05 ,  2G061EC01