特許
J-GLOBAL ID:200903027034486787
異常診断装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
, 高松 猛
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-308714
公開番号(公開出願番号):特開2006-153855
出願日: 2005年10月24日
公開日(公表日): 2006年06月15日
要約:
【課題】軸受の回転周波数の変動による振動周波数変動の影響を打ち消して、軸受の異常診断を常に高精度に実施できる異常診断装置を提供すること。【解決手段】軸受20の振動検出器31からの振動信号をサンプリングしてその値を電気信号として出力する検出処理部30と、検出処理部30の出力を基に軸受20の異常診断を行なう診断処理部40とを備える。検出処理部40は、A/D変換トリガパルスが入力される度に振動信号をサンプリングしてその値を電気信号として出力するA/D変換器33と、A/D変換トリガパルスを発生するPLL回路34とを備える。PLL回路34は、軸受20の回転検出器32からの回転パルスの周波数とA/D変換トリガパルスの周波数とが比例関係となるように同期引き込みを行なう。【選択図】図1
請求項(抜粋):
軸受の異常を診断する異常診断装置であって、
前記軸受の振動周波数を検出するための振動検出器から出力される振動信号をサンプリングしてその値を電気信号として出力する振動検出処理部と、
前記振動検出処理部の出力を基に前記軸受の異常診断を行なう診断処理部と、
を備え、
前記振動検出処理部におけるサンプリング周波数が前記軸受の回転周波数と比例関係にあることを特徴とする異常診断装置。
IPC (3件):
G01M 13/04
, G01H 17/00
, F16C 19/52
FI (3件):
G01M13/04
, G01H17/00 A
, F16C19/52
Fターム (24件):
2G024AC01
, 2G024BA15
, 2G024BA27
, 2G024CA09
, 2G024CA13
, 2G024CA17
, 2G024DA09
, 2G024EA01
, 2G024EA13
, 2G024FA04
, 2G024FA06
, 2G024FA11
, 2G064AA17
, 2G064AB01
, 2G064AB02
, 2G064AB22
, 2G064CC13
, 2G064CC35
, 2G064CC42
, 2G064CC58
, 3J101AA02
, 3J101AA62
, 3J101FA24
, 3J101GA02
引用特許:
前のページに戻る