特許
J-GLOBAL ID：200903027131148934
低温拡散反射測定装置及びそれに用いる試料ホルダ、低温拡散反射スペクトル測定方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
岩橋 祐司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-374691
公開番号（公開出願番号）：特開2005-140546
出願日： 2003年11月04日
公開日（公表日）： 2005年06月02日
要約：
【課題】 本発明の目的は、低温においても試料への氷結が起こることなく、温度制御下で粉末試料の拡散反射スペクトルの測定を容易に行うことができる粉末試料用低温拡散反射スペクトル測定装置を提供することにある。【解決手段】 クライオスタット12と、クライオスタット熱伝導部21に熱伝導板22および熱伝導体18を介して接続され、かつ、粉末試料がクライオスタット光学窓28の内側に近接して保持されることを特徴とする温度変化分光測定用粉末試料ホルダ13と、積分球14および検出器16を備えた拡散反射光検出手段とを組み合わせた粉末試料用低温拡散反射スペクトル測定装置10。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
クライオスタットの真空容器内において、その光学窓に近接して粉末試料を保持し、前記真空容器の外部に設置された拡散反射光検出手段を用いることによって、温度制御下での粉末試料の拡散反射スペクトル測定を可能にすることを特徴とする低温拡散反射スペクトル測定方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N21/27 B
, G01N21/01 B
, G01N21/01 C
2G059AA02
, 2G059BB09
, 2G059DD18
, 2G059EE02
, 2G059EE12
, 2G059FF20
, 2G059JJ16
, 2G059JJ17
, 2G059JJ30
, 2G059KK01
, 2G059LL04
, 2G059NN01
