特許

J-GLOBAL ID：200903027167118012

シングルビーム型ガス分析計

発明者： 浅野 一朗 ,  小島 建之助
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-116851
公開番号（公開出願番号）：特開平5-288679
出願日： 1992年04月08日
公開日（公表日）： 1993年11月02日
要約：

【要約】【目的】 干渉成分およびゼロドリフトの影響を同時に、しかも、簡便に補償することができるシングルビーム型ガス分析計を提供すること。【構成】 サンプルガスSが導入されるセル1に対して互いに光学的に直列に配置される測定用検出器9と干渉成分補償用検出器10の干渉成分に対する感度を互いに等しくなるように設定すると共に、ガス分析計の初期校正時、前記両検出器9,10の出力に対するゲイン調整を同一の電圧値を用いて行うようにした。

請求項（抜粋）：

サンプルガスが導入されるセルの一端側に光源を配置し、他端側に測定用検出器と干渉成分補償用検出器とを光学的に直列に配置し、前記両検出器の出力差に基づいてサンプルガスに含まれる特定の測定対象成分の濃度を測定するようにしたシングルビーム型ガス分析計において、前記両検出器の干渉成分に対する感度を互いに等しくなるように設定すると共に、ガス分析計の初期校正時、前記両検出器の出力に対するゲイン調整を同一の電圧値を用いて行うようにしたことを特徴とするシングルビーム型ガス分析計。