特許
J-GLOBAL ID：200903027171504687
磁気センサの出力特性計測装置、および磁気センサの出力特性調整方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
横沢 志郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-007955
公開番号（公開出願番号）：特開平9-197030
出願日： 1996年01月22日
公開日（公表日）： 1997年07月31日
要約：
【要約】【課題】 磁気抵抗素子を備えた磁気センサにおいて、磁気センサからの出力信号に生じるオフセットなどを調整するために、その出力特性を回転磁界内において簡単に計測できる磁気センサの出力特性計測装置、およびそれを用いた出力特性の調整方法を提供すること。【解決手段】 増幅回路内蔵型の磁気センサ20の出力特性を調整するにあたって、磁気センサ20を配置した位置を中心にその周囲に90°間隔でコイル1,2,3,4を配置し、このコイルから回転磁界を発生させる。このとき、磁気センサ20の増幅回路から出力される信号に基づいて、磁気センサ20のオフセット等を調整する。
請求項（抜粋）：
磁界に応じて抵抗値が変化する磁気抵抗素子を具備する感磁回路、該感磁回路からの出力信号を増幅する増幅回路、および該増幅回路に付加された回路であって、その回路定数を変更することによって前記増幅回路の出力信号を調整するための調整回路を備えた磁気センサの出力特性を計測する装置であって、前記磁気抵抗素子の配置位置を中心にその周囲に配置された複数の磁界発生用のコイルを備え、該コイルから前記磁気抵抗素子に回転磁界を与える回転磁界発生手段と、前記増幅回路からの出力信号を検出する信号検出手段とを有することを特徴とする磁気センサの出力特性計測装置。
IPC (3件)：
G01R 33/02
, G01R 33/09
, H01L 43/08
G01R 33/02 X
, H01L 43/08 Z
, G01R 33/06 R
