特許
J-GLOBAL ID：200903027205572920
電子ユニットの検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-250402
公開番号（公開出願番号）：特開平11-094919
出願日： 1997年09月16日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：
【要約】【課題】 全体回路中に複数の局部回路を含んで構成された電子ユニットの局部回路を容易に検査する。【解決手段】 電子ユニット11のケース14に形成された専用孔15に検査機のプローブ16を挿入してその先端を電子ユニット11内部のチェックパッド13に接触させ、プローブ16の電圧を変化させて局部回路の入力点に検査信号を与え、この検査信号に基づく全体回路12の出力状態の変化を検知することで局部回路の動作適正を検査する。
請求項（抜粋）：
電子ユニットの動作適正について検査を行う検査方法であって、前記電子ユニットの動作適正を検査する検査機に、前記電子ユニットの所定の外部接続端子に接続して当該電子ユニットの入出力動作を検査する入出力検査機能部のほか、プローブと、このプローブの電圧を任意に調整するプローブ電圧調整部とを設けるとともに、前記電子ユニット内の全体回路内における局部回路の入力点に局部回路検査専用のチェックパッドを形成し、前記全体回路を収納するケースの前記チェックパッドに対応する外壁の一部に、前記チェックパッドに対応した専用孔を形成し、前記専用孔に前記検査機のプローブを挿入して当該プローブの先端を前記チェックパッドに接触させ、前記プローブの電圧を前記プローブ電圧調整部で変化させて前記局部回路の入力点に検査信号を与え、この検査信号に基づく前記全体回路の出力状態の変化を検知することでもって前記局部回路の動作適正を検査することを特徴とする電子ユニットの検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 A
, G01R 31/02
