特許

J-GLOBAL ID：200903027252291041

論理集積回路用テストパターン作成方法及びこれを用いた試験方法

発明者： 竹山 広治 ,  衛藤 健
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 松本 眞吉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-250331
公開番号（公開出願番号）：特開平8-114656
出願日： 1994年10月17日
公開日（公表日）： 1996年05月07日
要約：

【要約】【目的】論理集積回路の出来上がりを待たずに試験効率のよいテストパターンを作成し、これを用いて試験する。【構成】論理集積回路に入力パターンを順次供給し、論理集積回路から取り出される出力パターンが期待値パターンに一致するかどうかを判定するという試験を行い、不一致と判定した場合にはその論理集積回路に対する試験を打ち切り、次の同種の論理集積回路に対し、該試験を行う。論理集積回路が出来上がる前に、配線設計データから得た配線条件により信号線の断線又は短絡の故障発生度を推定し、この信号線を推定故障発生度順に並べ、この信号線の故障を検出するためのテストパターンを作成し、これを推定故障発生度の降順に使用する。推定故障発生度は、電源供給線と交差する回数が多い程、配線長が長い程、配線層交替回数が多い程、配線密度が高い程、高くなるように定める。

請求項（抜粋）：

論理集積回路に入力パターンを順次供給し、該論理集積回路から取り出される出力パターンが期待値パターンに一致するかどうかを判定するという試験を行うための、該入力パターンと期待値パターンの組であるテストパターンを作成する論理集積回路用テストパターン作成方法において、配線設計データから得た配線条件により信号線の断線又は短絡の故障発生度を推定し、推定故障発生度順に並んだ、故障を検出するための該テストパターンを作成することを特徴とする論理集積回路用テストパターン作成方法。