特許

J-GLOBAL ID：200903027256818621

画像認識方法

発明者： 大塚 康二 ,  鈴木 崇 ,  麦島 芳明
出願人/特許権者： サンケン電気株式会社
代理人 (1件)： 高野 則次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-057943
公開番号（公開出願番号）：特開平6-013418
出願日： 1986年10月08日
公開日（公表日）： 1994年01月21日
要約：

【要約】【目的】 パターン認識を正確に行うことができる方法を提供する。【構成】 被認識パターンを含む領域に対応する多数の画素の明暗を示す画像データを求める。この画像データをX軸方向とこれに直交するY軸方向とに配置する。X軸上の各位置におけるY軸方向に配置されているデータの和から成るX軸データ(x1 〜x8 )を求めると共に、Y軸上の各位置におけるX軸方向に配置されているデータの和から成るY軸データ(y1 〜y8)を求める。更に、X軸上の各位置において、X軸上の各位置を基準にしてX軸方向の所定画素範囲の前記X軸データを加算してX軸加算値(A1 〜A8 )を求めると共に、Y軸上の各位置において、Y軸上の各位置を基準にしてY軸方向の所定画素範囲の前記Y軸データを加算してY軸加算値(B1 〜B8 )を求める。前記X軸加算値(A1 〜A8 )と前記Y軸加算値(B1 〜B8 )とに基づいて前記被認識パターンの有無又は位置を認識する。

請求項（抜粋）：

被認識パターンを含む領域に対応する多数の画素の明暗を示す画像データをX軸方向とこれに直交するY軸方向とに配置し、X軸上の各位置におけるY軸方向に配置されているデータの和から成るX軸データ(x1 〜x8)を求めると共に、Y軸上の各位置におけるX軸方向に配置されているデータの和から成るY軸データ(y1 〜y8)を求め、更に、X軸上の各位置において、X軸上の各位置を基準にしてX軸方向の所定画素範囲の前記X軸データを加算してX軸加算値(A1 〜A8 )を求めると共に、Y軸上の各位置において、Y軸上の各位置を基準にしてY軸方向の所定画素範囲の前記Y軸データを加算してY軸加算値(B1 〜B8 )を求め、前記X軸加算値(A1 〜A8 )と前記Y軸加算値(B1 〜B8 )とに基づいて前記被認識パターンの有無又は位置を認識することを特徴とする画像認識方法。

IPC (4件)：

H01L 21/52 ,  G06F 15/62 380 ,  H01L 21/60 301 ,  H01L 21/68

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭55-121584
  
• 特開昭59-066785
  
• 特開昭59-051536