特許
J-GLOBAL ID:200903027262758550

測定機器

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 深見 久郎 (外3名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-509062
公開番号(公開出願番号):特表平8-503311
出願日: 1994年09月14日
公開日(公表日): 1996年04月09日
要約:
【要約】表面仕上げパラメータを測定するためのポータブル測定機器は、作業台(5)上に載るメインハウジング(1)を有する。摺動可能なアーム(3)は、ワークピース(25)上で触針(21)を動かすことができるよう、台(5)の上で伸びまたは引込むことが可能である。触針(21)はアーム(3)の端部に取付けられるゲージ(19)に取付けられる。取付物は、ワークピース(25)から触針(21)を持上けおよびそれを下降させて戻すための機構を組込む、垂直方向に可動であるスライダ(15)を含む。機器の動作は外部装置を用いて再プログラム可能なモジュラソフトウエアによって制御され、機械はハウジング(1)上の制御パネル(37)によって、またはリモートコントローラ(55)上の同一の制御パネル(53)によって操作される。ゲージは誘導センサ(75、77)を含み、関連回路は自動調節可能なエラー取消装置(177、179)を含む。制御システムはアーム(3)の感知された位置を用いて、アーム(3)を駆動するモータ(15)の速度を評価し、モータ(145)上のシャフトエンコーダを必要としない。
請求項(抜粋):
表面の特性を測定するための測定機器であって、前記機器は、触針(21)を保持しそれをワークピース上で横断させるためのアーム(3)と、触針の先端(23)の運動が変換器のコイル(77)とコイルのためのコア(75)との間において相対的な運動を生じさせるよう配置される誘導変換器のコイル(77)への接続のための電気回路手段とを備え、前記回路手段は、制御信号に応答し構成要素のパラメータを変更してそれにより前記回路手段の動作に作用するよう調整可能な構成要素(177;179)を備え、前記測定機器は、それが前記回路手段の動作のエラーに応答して前記制御信号を発生しそれによってエラーを低減するよう構成要素を自動的に調整する動作のモードを有する、表面の特性を測定するための測定機器。
引用特許:
審査官引用 (12件)
  • 特開平2-247524
  • 特開昭60-214205
  • 特開昭57-197697
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