特許
J-GLOBAL ID：200903027271700920
円筒状物の表面形状測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-007991
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201005
出願日： 1995年01月23日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：
【要約】【目的】 円筒状物の表面形状を確実かつ容易に測定することができ、生産性の向上を図ることのできる円筒状物の表面形状測定装置を提供する。【構成】 円筒状物1は、係止軸2によって係止されており、高さ合わせ基準台3上に載置されている。基台4には、位置調整機構5,6を介して、直線状に形成された移動路7が係止されている。移動路7の両端には、左側ガイド8、右側ガイド9、左側高さセンサ10及び右側高さセンサ11がそれぞれ設けられている。移動路7には、移動路7上を移動可能に構成されたスライド機構12が設けられており、このスライド機構12上に表面形状測定センサ13が配設されている。
請求項（抜粋）：
円筒状物の中心軸に略平行に配置される移動路と、前記移動路の両端に配置され、前記円筒状物に当接されて位置決めを行うガイドと、前記移動路に沿って移動可能とされ、前記円筒状物の表面との距離を測定する表面形状測定センサとを具備したことを特徴とする円筒状物の表面形状測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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