特許

J-GLOBAL ID：200903027272319600

検査治具

発明者： 井上 和夫
出願人/特許権者： ジェイエスアール株式会社
代理人 (1件)： 谷 義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-005700
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197598
出願日： 1997年01月16日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：

【要約】【課題】 装着された半導体素子の各端子と基板の端子との接触面に不所望なせん断力を作用させることなく許容範囲の加圧力を半導体素子の各端子に均等に加えることができること。【解決手段】 押圧体38を有する押圧体支持部28が支持軸30により案内支持されるもとで、押圧体支持部28の上面に配されるスライド部材26が半導体素子24の上面に向けて押圧されて押圧体38の下端面が凹部32cの底面部に当接された後、スライド部材26が押圧体支持部28の上面に対して一方向に摺動されることによりスライド部材26の係止片部40cが支持軸30の連結部30bに係合されて押圧体38の加圧状態が保持されるもの。

請求項（抜粋）：

内部に電子回路を有する被検査物の端子に電気的に接続される接点、および、入力信号が入力されるとともに出力信号が送出される入出力部を有する基板と、前記基板上に配される前記被検査物の端子と前記基板の接点とを接触させるべく該被検査物における被押圧面部に当接する当接部を有する押圧部材と、前記押圧部材の当接部が前記基板に配された被検査物の被押圧面部に対して略鉛直方向に沿って該被押圧面部に対して近接もしくは離隔可能に、前記押圧部材を支持する支持部材と、前記押圧部材における当接部に対向する部位の両端部が前記被検査物における被押圧面部に対して略平行な方向に沿って移動可能に支持され、該当接部に前記被検査物の被押圧面部に対して選択的に加圧状態もしくは解放状態をとらせるスライド部材と、前記押圧部材に対して対向配置され、該押圧部材の当接部が前記被検査物の被押圧面部に対して当接されるとき、該押圧部材の当接部における加圧力を制限する加圧力制限部と、を具備して構成される検査治具。

IPC (3件)：

G01R 31/26 ,  H01R 23/02 ,  H01R 33/76

FI (3件)：

G01R 31/26 J ,  H01R 23/02 H ,  H01R 33/76

引用特許：

審査官引用 (2件)

• ベアチップテスト用ソケット
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-014628   出願人：富士通株式会社
• 特開昭58-027400