特許
J-GLOBAL ID:200903027371269550

ガス分析装置及びガス分析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  早川 康 ,  藤井 俊二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-226731
公開番号(公開出願番号):特開2008-051598
出願日: 2006年08月23日
公開日(公表日): 2008年03月06日
要約:
【課題】本発明は、センサ部から解析装置に入力される信号数を少なくして解析装置に電送されるデータ量を少なくし、解析装置に入力されるデータ量を低減し、複数箇所にセンサユニットを設置して複数箇所におけるガス中のガス成分濃度をリアルタイムで測定できるガス分析装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明のガス分析方法は、レーザ光を分波器22で計測用レーザ光と参照用レーザ光とに分波し、該計測用レーザ光をガス中を透過させて受光器25で受光し、受光した計測用レーザ光の光強度と前記参照用レーザ光の光強度とからガス中のガス成分によって吸収された吸収スペクトルを把握し、該吸収スペクトルを分析してガス成分濃度を求めるガス分析方法であって、前記計測用レーザ光を光減衰器23を通してガス中に照射し、ガス中を透過した計測用レーザ光の光強度が前記参照用レーザ光の光強度と所定の関係を有するように前記光減衰器を制御する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
レーザ光を分波器で計測用レーザ光と参照用レーザ光とに分波し、該計測用レーザ光をガス中を透過させて受光器で受光し、受光した計測用レーザ光の光強度と前記参照用レーザ光の光強度とからガス中のガス成分によって吸収された吸収スペクトルを把握し、該吸収スペクトルを分析してガス成分濃度を測定するガス分析方法であって、 前記計測用レーザ光を光減衰器を通してガス中に照射し、ガス中を透過した計測用レーザ光の光強度が前記参照用レーザ光の光強度と所定の関係を有するように前記光減衰器によって制御することを特徴とするガス分析方法。
IPC (1件):
G01N 21/35
FI (1件):
G01N21/35 Z
Fターム (23件):
2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB01 ,  2G059CC04 ,  2G059CC05 ,  2G059CC07 ,  2G059CC09 ,  2G059CC13 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF09 ,  2G059FF10 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG05 ,  2G059GG07 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM09
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 車載型HC測定装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2002-282994   出願人:株式会社堀場製作所
審査官引用 (7件)
  • 排気ガス分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-379610   出願人:トヨタ自動車株式会社, 三菱重工業株式会社
  • 特公平5-077023
  • 特許第2837442号
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