特許
J-GLOBAL ID：200903027404163540
計測装置管理システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
荒船 博司
, 荒船 良男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-171481
公開番号（公開出願番号）：特開2008-002890
出願日： 2006年06月21日
公開日（公表日）： 2008年01月10日
要約：
【課題】複数の計測装置で冗長化して計測する場合でも個々の計測装置の異常を早期に発見することができる計測装置管理システムを提供する。【解決手段】計測装置管理システム1は、計測対象105a〜105cのうちで同一の計測対象を計測装置104a〜104cで多重に測定し、管理装置102では計測装置診断基準情報202に基づいてその測定データの夫々が正常領域にあるか否かを計測装置診断手段310で診断し、いずれかの計測データが正常領域にない場合に、その正常領域にない計測データに係る計測装置が異常であることを示す情報を出力する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
同一計測対象に対して複数の計測装置を多重接続し、前記計測装置から出力される計測データを管理装置により管理するようにした計測管理システムにおいて、
前記管理装置は、
記憶手段に予め格納される基準データと前記同一計測対象に接続する複数の計測装置で取得された計測データの夫々とを比較し、いずれか一の計測データが正常データでない場合に、当該いずれか一の計測データに係る計測装置が異常であることを示す情報を出力する計測装置診断手段を備えることを特徴とする計測装置管理システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
2F076BA13
, 2F076BD04
, 2F076BE04
, 2F076BE07
, 2F076BE08
, 2F076BE12
, 2F076BE15
, 2F076BE16
, 2F076BE17
, 5H223AA15
, 5H223DD03
, 5H223DD07
, 5H223DD09
, 5H223EE30
