特許

J-GLOBAL ID：200903027480328222

材料の不均質箇所を検出しその位置を測定するための装置

発明者： ヨハン・ハー・ヒンケン ,  ユリ・タフリン
出願人/特許権者： エフ・イー・テー・メッステヒニーク・ゲーエムベーハー
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外7名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-574923
公開番号（公開出願番号）：特表2002-526770
出願日： 1999年10月05日
公開日（公表日）： 2002年08月20日
要約：

【要約】本発明は電気伝導性試料(10)の中の試料の不均質箇所を検出しその位置を測定するための装置であって、試験すべき試料(10)用の1個のホルダ(30)と、試料(10)の中に温度プロフィールを作るための温度調整装置(30,50,60)と、試料(10)の位置を変えるためのホルダ(30)と連結した駆動装置と試料(10)の外側の磁場を接点無しに測定するための少なくとも1個の測定値変換器(20)とを備えた装置に関する。

請求項（抜粋）：

【請求項1】 電気伝導性試料(10)の中の材料の不均質箇所を検出しその位置を測定するための試験装置であって、試験すべき試料(10)用の1個のホルダ(30)と、前記試料(10)の中に温度プロフィールを作るための温度調整装置(30,50,60)と、前記試料(10)の位置を変えるための前記ホルダ(30)と連結した1個の駆動装置と、前記試料(10)の外側の磁場を接点無しに測定するための少なくとも1個の測定値変換器(20)を備えた前記試験装置。

IPC (4件)：

G01N 27/72 ZAA ,  G01R 33/035 ,  G01R 33/12 ,  G01R 33/16

FI (4件)：

G01N 27/72 ZAA ,  G01R 33/035 ,  G01R 33/12 Z ,  G01R 33/16

Fターム (15件)：

2G017AA02 ,  2G017AD32 ,  2G017CA08 ,  2G017CB02 ,  2G017CB10 ,  2G053AA07 ,  2G053AA11 ,  2G053AB06 ,  2G053BA02 ,  2G053BA15 ,  2G053BB04 ,  2G053BB11 ,  2G053BB16 ,  2G053CA10 ,  2G053DB19