特許
J-GLOBAL ID:200903027484758981

検査測定装置及び検査測定対象物の検査測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松村 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-423773
公開番号(公開出願番号):特開2005-181155
出願日: 2003年12月19日
公開日(公表日): 2005年07月07日
要約:
【課題】電子回路基板の電気回路パターン上に塗布された半田クリームの良否などを検査測定する場合における自己判断機能を備えて正しく検査測定できる検査測定装置を得ること。【解決手段】本発明の一実施例の検査測定装置は、内部に所定の面積と幅のターゲットマークMを搭載し、そのターゲットマークMの面積、幅方向(X方向及びY方向)の数値データを予め書き込んでおく記憶手段131と、前記ターゲットマークMを撮影するカメラと22、前記ターゲットマークMを照明する照明手段21と、前記カメラ22及び前記照明手段21を駆動制御する機構制御装置30と、前記カメラ22が撮影した画像データを画像処理する主制御装置10とを備えて構成されている。【選択図】図2
請求項(抜粋):
内部に所定の面積と幅と位置が特定されたターゲットマークを搭載し、該ターゲットマークの面積、幅方向(X方向及びY方向)、及び位置の数値データを予め書き込んでおく記憶手段と、前記ターゲットマークを撮影するカメラと、前記ターゲットマークを照明する照明手段と、前記カメラ手段及び前記照明手段を駆動制御する機構制御装置と、前記カメラ手段が撮影した画像データを画像処理する主制御装置とを備えていることを特徴とする検査測定装置。
IPC (1件):
G01B11/24
FI (2件):
G01B11/24 K ,  G01B11/24 F
Fターム (36件):
2F065AA03 ,  2F065AA14 ,  2F065AA21 ,  2F065AA56 ,  2F065AA58 ,  2F065BB02 ,  2F065BB28 ,  2F065CC01 ,  2F065CC25 ,  2F065DD11 ,  2F065EE11 ,  2F065FF04 ,  2F065FF61 ,  2F065GG06 ,  2F065GG07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL12 ,  2F065LL30 ,  2F065NN02 ,  2F065QQ06 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ41 ,  2F065QQ42 ,  2F065RR08 ,  2F065SS09 ,  2F065SS13 ,  5E319AA03 ,  5E319AC01 ,  5E319BB05 ,  5E319CD29 ,  5E319CD53 ,  5E319GG03 ,  5E319GG15

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