特許

J-GLOBAL ID：200903027514513865

発光素子測定装置

発明者： 谷 直樹 ,  中谷 信一郎
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 西教 圭一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-033404
公開番号（公開出願番号）：特開2000-232242
出願日： 1999年02月10日
公開日（公表日）： 2000年08月22日
要約：

【要約】【課題】 発光素子の光学特性の測定を短時間で高精度に再現性よく行う。【解決手段】 発光ダイオード21を固定する固定治具22に臨んで拡散板23が配置され、発光ダイオード21からの放射束は拡散板23に投影される。拡散板23の背後には第1のカメラ24が設けられ、拡散板23に投影された配光パターンの透過像は第1のカメラ24で撮像される。固定治具22と拡散板23との間にハーフミラー26が設けられ、拡散板23上の投影像の反射像がハーフミラー26を介して第2のカメラ25で撮像される。第1および第2のカメラ24,25で取り込んだ画像は画像処理装置28で処理され、発光強度中心、指向角およびパターンマッチングが行われる。

請求項（抜粋）：

発光素子を着脱可能に固定する固定治具と、固定治具に固定された発光素子に臨んで配置され、投影された発光素子からの放射束を拡散する拡散板と、拡散板に投影された放射束の像を撮像するカメラとを備えることを特徴とする発光素子測定装置。

IPC (3件)：

H01L 33/00 ,  G01J 1/00 ,  G01M 11/00

FI (4件)：

H01L 33/00 K ,  G01J 1/00 E ,  G01J 1/00 C ,  G01M 11/00 T

Fターム (18件)：

2G065AA04 ,  2G065AA11 ,  2G065AB22 ,  2G065AB23 ,  2G065AB28 ,  2G065BA04 ,  2G065BB05 ,  2G065BB23 ,  2G065BC11 ,  2G065BC14 ,  2G065BC28 ,  2G065BC33 ,  2G065BD01 ,  2G065DA05 ,  2G065DA18 ,  2G086EE03 ,  5F041AA46 ,  5F041EE25