特許

J-GLOBAL ID：200903027553081379

超音波探触子の校正方法及び超音波探傷装置

発明者： 村山 章 ,  新田 一裕 ,  中島 優 ,  飯塚 幸理 ,  大野 成之 ,  三谷 幸雄 ,  田中 洋次 ,  田代 秀夫
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社 ,  三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-134782
公開番号（公開出願番号）：特開平11-326296
出願日： 1998年05月18日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】 平底穴と平底スリット状の人工疵を加工した校正用試験片を用いて、実ラインと同一の条件でオフラインでの探触子の校正と検定とを可能にする。【解決手段】 裏面に平底穴8と平底スリット7の人工疵を加工した校正用試験片4、5を鋼板1の搬送ラインの外側に付設し、超音波探傷機のインサイド台車、エッジ台車に取り付けられた探触子ヘッド2、3をオンライン探傷時と同一の速度で平底スリット8に直交する方向に走査し、校正用試験片に対する探傷を行い、探触子毎にその正常、異常を表示して検査する。

請求項（抜粋）：

裏面に平底穴と平底スリット状の人工疵を加工した複数の校正用試験片を、鋼板の搬送ラインの外側にその平底スリット状の人工疵が搬送ラインと平行な直線状となるように搬送ライン方向に配列し、鋼板のオンライン探傷時と同一の走査速度で、全ての探触子ヘッドを搬送ラインと直角の方向に走査してそれぞれに対応する前記校正用試験片に対する超音波探傷を行うことにより、前記探触子ヘッドに設けられた全ての探触子について検出結果に基づく校正と検定を行うことを特徴とする超音波探触子の校正方法。