特許
J-GLOBAL ID：200903027581935707
電子スチルカメラの測距装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 和憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-181942
公開番号（公開出願番号）：特開平5-005835
出願日： 1991年06月26日
公開日（公表日）： 1993年01月14日
要約：
【要約】【目的】 被写体の形状や反射率に影響されないで、信頼性のある測距データを求める。【構成】 投光部5から投光され、被写体24で反射されたスポット光はレンズ11を介してCCD25に入射し、スポット光の成分電荷を蓄積する。この成分電荷を含んだ電気信号はアンプ35,映像信号処理回路36を介して、パターン検出回路38に送られる。パターン検出回路38は成分電荷の分布から受光パターンを検出し、これに対応したデータを補正回路39に送る。補正回路39は受光パターンが投光パターンと対応していない場合には、前記データを投光パターンに対応するように補正し、これを演算部40に送る。演算部40は補正後のデータから重心を求め、この重心の位置から測距データを算出する。
請求項（抜粋）：
測距光を被写体に向けて投光する投光手段と、被写体で反射された測距光を撮像レンズを介して受光するとともに、撮像レンズで結像された被写体像を電気信号に変換する固体撮像素子と、前記電気信号から測距光の成分電荷を検出して、電荷分布から測距光の受光パターンを検出するパターン検出回路と、前記受光パターンが測距光の投光パターンに対応していないときには、受光パターンを前記投光パターンに対応するように補正して、その重心を検出する検出手段と、前記重心の位置から被写体距離に対応した測距データを演算する演算部とを設けたことを特徴とする電子スチルカメラの測距装置。
IPC (3件)：
G02B 7/32
, G03B 13/36
, H04N 5/232
G02B 7/11 B
, G03B 3/00 A
