特許

J-GLOBAL ID：200903027583013050

ピックアップ検査装置

発明者： 作山 宏幸
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 宮川 俊崇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-214627
公開番号（公開出願番号）：特開平6-036321
出願日： 1992年07月20日
公開日（公表日）： 1994年02月10日
要約：

【要約】【目的】 光ピックアップの組み立て工程における対物レンズアクチュエータの傾き調整において、スポット検査工程が自動的に行えるようにして、作業者の負担を軽減すると共に、品質のバラつきを防止する。【構成】 点P(xp,yp)を通る直線Lによって分割される撮像素子上の2つの領域に存在する1次リングのピークの個数を、それぞれa,bとするとき、値(a-b)または値(a/b)と、所定の値Hとの大小を比較する手段を設けて、ピークの個数のアンバランスの有無により、異常スポットを検出する。【効果】 簡単な計算で、異常なスポットを正確に検知することができる。

請求項（抜粋）：

レンズからの出射光を撮像素子上に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置において、処理手段として、前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)を通る直線Lによって分割される撮像素子上の2つの領域に存在する1次リングのピークの個数を、それぞれa,bとするとき、値(a-b)または値(a/b)と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備えたことを特徴とする光ピックアップのスポット検査装置。

IPC (3件)：

G11B 7/12 ,  G11B 7/08 ,  G11B 7/22