特許

J-GLOBAL ID：200903027605151249

標準面試料および光学特性測定システム

発明者： 渡辺 浩二 ,  石川 典夫 ,  中室 正雄
出願人/特許権者： コニカミノルタセンシング株式会社
代理人 (1件)： 久保 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-340763
公開番号（公開出願番号）：特開2006-153498
出願日： 2004年11月25日
公開日（公表日）： 2006年06月15日
要約：

【課題】白色板などの標準面試料の使い勝手を向上させ、試料と基準データとがばらばらにならないようにすること。【解決手段】測色計に基準データを与えるための標準色試料6であって、測色計5による測色を行って実測データを与えるための試料部51と、試料部51の種類を識別するための識別データ、試料部の光学特性に対応した基準データ、および基準データを取得した日付を示す日付データが記憶された記憶媒体52と、記憶媒体52に記憶されたデータを測色計に送るためのインタフェース手段53と、が一体的に設けられてなる。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

光学特性測定装置に基準データを与えるための標準面試料であって、 前記光学特性測定装置による測定を行って実測データを与えるための試料部と、 前記試料部の種類を識別するための識別データおよび前記試料部の光学特性に対応した基準データが記憶された記憶媒体と、 前記記憶媒体に記憶されたデータを前記光学特性測定装置に送るためのインタフェース手段と、 が一体的に設けられてなる、 ことを特徴とする標準面試料。

IPC (2件)：

G01J 3/46 ,  G06K 17/00

FI (2件)：

G01J3/46 Z ,  G06K17/00 L

Fターム (13件)：

2G020DA02 ,  2G020DA03 ,  2G020DA04 ,  2G020DA06 ,  2G020DA12 ,  2G020DA13 ,  2G020DA23 ,  2G020DA43 ,  2G020DA45 ,  5B058CA13 ,  5B058CA17 ,  5B058KA02 ,  5B058YA20

引用特許：

出願人引用 (1件)

• USP 5982501
  

審査官引用 (1件)

• ダブルビーム法分光測色器及びその校正方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-324868   出願人：凸版印刷株式会社