特許

J-GLOBAL ID：200903027610153560

塩素濃度測定装置

発明者： 市枝 信之 ,  田中 哲夫 ,  溝畑 保▲廣▼
出願人/特許権者： 大日本スクリーン製造株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-080144
公開番号（公開出願番号）：特開2001-264290
出願日： 2000年03月22日
公開日（公表日）： 2001年09月26日
要約：

【要約】【課題】銀/塩化銀電極の劣化に起因する測定誤差を排して塩素濃度の測定を正確に行える塩素濃度測定装置を提供する。【解決手段】メッキ液中に含まれている塩素の濃度を測定する塩素濃度測定装置において、メッキ液を収容する測定セル1と、測定セル1内に配置される対極2と、測定セル1内に配置される作用電極3と、測定セル1内に配置される基準電極4と、基準電極4に対する作用電極3の電位が所定の電位になるように、電流を作用電極3対極2との間に流す電源5と、作用電極3と対極2との間に流れた電流値に基づいて、メッキ液の塩素濃度を求める制御部6と、を備えている。を備えた

請求項（抜粋）：

メッキ液中に含まれている塩素の濃度を測定する塩素濃度測定装置において、メッキ液を収容する収容器と、前記収容器内に配置される対極と、前記収容器内に配置される作用電極と、前記収容器内に配置される基準電極と、前記基準電極に対する前記作用電極の電位が所定の電位になるように、前記作用電極と前記対極との間に電流を流す電源と、前記作用電極と前記対極との間に流れた電流値に基づいて、メッキ液の塩素濃度を求める制御手段と、を備えたことを特徴とする塩素濃度測定装置。

IPC (5件)：

G01N 27/416 ,  C25D 21/12 ,  G01N 27/447 ,  G01N 27/26 381 ,  G01N 27/26

FI (5件)：

C25D 21/12 D ,  G01N 27/26 381 B ,  G01N 27/26 381 D ,  G01N 27/46 316 Z ,  G01N 27/26 311

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 遊離塩素測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-142492   出願人：電気化学計器株式会社
• 特開平2-296143
  
• 特開昭63-026570