特許
J-GLOBAL ID：200903027617460620
磁歪と磁化との同時測定方法、及びその方法を用いた磁歪計測用機器の較正用標準試料の作成方法、並びにその作成方法で作成した磁歪計測用機器の較正用標準試料、及びその較正用標準試料を使用して較正した磁歪計測用機器
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (5件)：
杉村 興作
, 徳永 博
, 藤谷 史朗
, 来間 清志
, 冨田 和幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-093200
公開番号（公開出願番号）：特開2006-275665
出願日： 2005年03月28日
公開日（公表日）： 2006年10月12日
要約：
【課題】磁歪と磁化とを、試料の同領域で観測する。【解決手段】X線回折法による磁歪計測の手法とX線磁気回折法とを新たに組み合わせることで、磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に観測できる便利な手法を開発した。この手法は、試料の同領域についての磁場内での回折光強度の相対変化δを磁場上昇時および磁場下降時のそれぞれで計測して、それらから磁場Hに対し反対称な成分δAと対称な成分δSとを求め、対称な成分δSに基づき試料の前記領域の磁歪係数λ100を求めるとともに、反対称な成分δAと対称な成分δSとを再合成して得られる量R’aに基づき試料の前記領域の相対磁化M/MSを求めるものである。内部モードの磁歪係数値が外部モードの磁歪係数値に一致する条件を使えば、機器の較正等に都合のよい方法である。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
磁歪と磁化とを試料の同領域について同時に測定するに際し、
前記試料の前記領域についての磁場内での回折光強度の相対変化(δ)を磁場上昇時および磁場下降時のそれぞれで計測して、それらから磁場(H)に対し反対称な成分(δA)と対称な成分(δS)とを求め、
前記対称な成分(δS)に基づき前記試料の前記領域の磁歪係数(λ100)を求めるとともに、
前記反対称な成分(δA)と対称な成分(δS)とを再合成して得られる量(R’a)に基づき前記試料の前記領域の相対磁化(M/MS)を求めることを特徴とする、磁歪と磁化との同時測定方法。
IPC (5件)：
G01R 33/12
, G01N 23/207
, G01R 33/16
, G01R 33/18
, G01R 35/00
G01R33/12 Z
, G01N23/207
, G01R33/16
, G01R33/18
, G01R35/00 M
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001EA01
, 2G001GA10
, 2G001LA02
, 2G001MA05
, 2G001PA12
, 2G017AD69
, 2G017CA01
, 2G017CA11
, 2G017CB02
