特許
J-GLOBAL ID：200903027654739740

ICP分析装置

発明者：
平野 智之

平野 智之 について

, 
大穂 健介

大穂 健介 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-060904
公開番号（公開出願番号）：特開平11-258163
出願日： 1998年03月12日
公開日（公表日）： 1999年09月24日
要約：
【要約】【課題】 霧化試料が液滴化して試料導入管に付着することをできるだけなくし、プラズマの生成状態を安定化する。【解決手段】 横向きのプラズマトーチ1を備えたICP分析装置では、霧化試料は、プラズマトーチ1の下方位置から試料導入管4を通じてプラズマトーチ1に導入される。その試料導入管4のうち、プラズマトーチ1と同じに横向きとなる個所の手前で、管内をプラズマトーチ1に向けて先細のテーパ9に絞って、霧化試料が流速を上げながら、湾曲個所4rから横向き個所4hに流入するようにした。
請求項（抜粋）：
横向きのプラズマトーチを備えており、このプラズマトーチにはその下方位置から霧化試料を導入する試料導入管が連結されているICP分析装置であって、試料導入管は、プラズマトーチと同様の横向きとなる個所の手前で少なくとも管内形状がプラズマトーチに向かって先細のテーパに絞られていることを特徴とするICP分析装置。
IPC (3件)：
G01N 21/73 ,  H01J 49/10 ,  H05H 1/42
FI (3件)：
G01N 21/73 ,  H01J 49/10 ,  H05H 1/42
引用特許：
審査官引用 (4件)
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