特許
J-GLOBAL ID：200903027686804063

ムラ欠陥を減少するシステム及び方法

発明者：
王 碩晟

王 碩晟 について

, 
張 世昌

張 世昌 について


出願人/特許権者：
統寶光電股▲ふん▼有限公司

統寶光電股▲ふん▼有限公司 について


代理人 (3件)： 大野 聖二 ,  森田 耕司 ,  山田 勇毅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-186837
公開番号（公開出願番号）：特開2008-046617
出願日： 2007年07月18日
公開日（公表日）： 2008年02月28日
要約：
【課題】 ムラ欠陥を減少するシステム及び方法を提供する。【解決手段】 各画素が試験信号を受ける有機発光素子に対応する表示情報を読み出すセンシングユニットを備えた有機発光素子をそれぞれ含む複数の画素を含む画素アレイ、前記試験信号と前記表示情報に基づいて、各有機発光素子の表示パラメータを決定する変換回路、各有機発光素子の前記表示パラメータを保存するメモリ素子、および前記メモリ素子に保存された前記表示パラメータに基づいて、ビデオ信号を変え、前記画素アレイを駆動する補償回路を含むムラ欠陥を減少するシステム。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
各画素が試験信号を受ける有機発光素子に応答した表示情報を読み出すセンシングユニットを備えた有機発光素子をそれぞれ含む複数の画素を含む画素アレイ、 前記試験信号と前記表示情報に基づいて、各有機発光素子の表示パラメータを決定する変換回路、 各有機発光素子の前記表示パラメータを保存するメモリ素子、および 前記メモリ素子に保存された前記表示パラメータに基づいて、ビデオ信号を変え、前記画素アレイを駆動する補償回路を含むムラ欠陥を減少するシステム。
IPC (3件)：
G09G 3/30 ,  H01L 51/50 ,  G09G 3/20
FI (14件)：
G09G3/30 K ,  H05B33/14 A ,  G09G3/20 624B ,  G09G3/20 642A ,  G09G3/20 641P ,  G09G3/20 642P ,  G09G3/20 621K ,  G09G3/20 660U ,  G09G3/20 631V ,  G09G3/20 670J ,  G09G3/20 680S ,  G09G3/20 680T ,  G09G3/20 680V ,  G09G3/20 611A
Fターム (24件)：
3K107AA01 ,  3K107BB01 ,  3K107CC33 ,  3K107EE03 ,  3K107EE68 ,  3K107HH04 ,  5C080AA06 ,  5C080BB05 ,  5C080DD05 ,  5C080DD15 ,  5C080DD26 ,  5C080DD29 ,  5C080EE29 ,  5C080FF11 ,  5C080GG09 ,  5C080GG13 ,  5C080HH09 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ03 ,  5C080KK01 ,  5C080KK07 ,  5C080KK20 ,  5C080KK43 ,  5C080KK47
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 米国特許第6710548号
審査官引用 (4件)
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