特許
J-GLOBAL ID：200903027694047336
光学情報読み取り装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷 照一 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-126206
公開番号（公開出願番号）：特開平6-139392
出願日： 1993年05月27日
公開日（公表日）： 1994年05月20日
要約：
【要約】【目的】光学情報読み取り装置において、その半導体レーザの劣化を、通常の使用状態のままでも、安価にかつ正しく容易に判断できるようにする。【構成】電流検出回路120が半導体レーザダイオードの動作電流を検出する。マイクロコンピュータ150が、同検出動作電流に基づき、半導体レーザダイオード30の劣化の有無を判断する。
請求項（抜粋）：
レーザ光を出射する半導体レーザと、この半導体レーザからの出射レーザ光を情報媒体に向けて反射させて走査する光学系と、前記情報媒体からの反射レーザ光を受光する受光手段とを有し、この受光手段からの受光結果に基づき、前記情報媒体の情報を読み取るようにした光学情報読み取り装置において、前記半導体レーザの動作電流を検出する動作電流検出手段と、この動作電流検出手段の検出動作電流に基づき前記半導体レーザの劣化の有無を判断する劣化判断手段とを設けるようにしたことを特徴とする光学情報読み取り装置。
引用特許：
前のページに戻る
