特許
J-GLOBAL ID：200903027728531836
放射線同時計数処理方法および断層撮影装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
杉谷 勉
, 戸高 弘幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-004687
公開番号（公開出願番号）：特開2008-170329
出願日： 2007年01月12日
公開日（公表日）： 2008年07月24日
要約：
【課題】検出器の感度の影響を受けずに精度よく補正を行うことができる放射線同時計数処理方法および断層撮影装置を提供することを目的とする。【解決手段】ステップS4の規格化では、同時計数投影データ上の所定のパスにある各画素値を、そのパス全体の加算平均値を用いて規格化し、ステップS5の除算/検出器固有感度の導出では、同時計数投影データ上の別の所定のパスにある画素値の加算平均値を、ステップS4の規格化で規格化された同時計数投影データ上の全体領域の加算平均値で除算することで、検出器の感度の影響を受けずに精度よく補正を行うことができる。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
放射性薬剤が投与された被検体から発生した放射線を同時計数して得られたデータに対して演算処理を行う放射線同時計数処理方法であって、放射線検出器群を構成する複数の放射線検出器について、各々の放射線検出器の特性を示す感度補正係数を、経年的に変化しない不変の要素と、経年的に変化する変動の要素とに分解した場合に、(A)モデルとなる被検体から発生した放射線を同時計数して得られた出力データに基づいて、前記不変の要素を求める要素導出工程と、(B)モデルとなる被検体から発生した放射線を同時計数して得られた出力データに基づいて、同時計数投影データを求める同時計数投影データ導出工程と、(C)前記(B)の同時計数投影データ導出工程で求められた同時計数投影データ上の所定のパスにある各画素値を、そのパス全体の加算データを用いて規格化する規格化工程と、(D)前記(C)の規格化工程で規格化された同時計数投影データ上の別の所定のパスにある画素値の統計量を全体領域の加算データで除算する除算工程と、(E)前記(D)の除算工程で除算された値を前記変動の要素とし、その変動の要素と前記(A)の要素導出工程で求められた不変の要素との積で前記感度補正係数を放射線検出器ごとに求める感度補正係数導出工程と、(F)前記(E)の感度補正係数導出工程で求められた各々の放射線検出器ごとの感度補正係数を用いて、対象となる被検体から発生した放射線を同時計数して得られた出力データを放射線検出器ごとに補正する補正工程とを備えることを特徴とする放射線同時計数処理方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (9件)：
2G088EE02
, 2G088FF07
, 2G088KK06
, 2G088KK07
, 2G088KK15
, 2G088KK32
, 2G088LL15
, 2G088LL16
, 2G088LL21
