特許

J-GLOBAL ID：200903027742221157

材料試験機用制御装置

発明者： 北條 順一
出願人/特許権者： 日本たばこ産業株式会社
代理人 (1件)： 瀧野 秀雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-089196
公開番号（公開出願番号）：特開平10-281956
出願日： 1997年04月08日
公開日（公表日）： 1998年10月23日
要約：

【要約】【課題】 材料試験機による材料試験において、試験条件を替えるときの作業性をよくして、試験実施作業を正確、かつ簡便に操作可能にする。【解決手段】 材料試験機における制御条件のパラメータ、試験片条件のパラメータおよびデータ処理条件のパラメータを、一つのレコードデータとして作成しておく。試験片に対応するレコード(1)〜(X)を一つの条件ファイルとする。複数の条件ファイル(A)〜(E)をパーソナルコンピュータのハードディスクに記憶しておく。試験者からパーソナルコンピュータで選択された条件ファイルについて、試験片に対応するパラメータ(レコードデータ)を計測制御装置に転送する。計測制御装置において、転送されたパラメータに基づいて材料試験機を制御する。

請求項（抜粋）：

材料試験機における制御条件、試験片の試験片条件および計測データのデータ処理条件に応じた各パラメータに基づいて材料試験機を制御する計測制御装置と、試験片毎に前記各パラメータを一つのセットとするとともに、複数の試験片に対応する複数セットのパラメータを一つの条件ファイルとして、複数の該条件ファイルを蓄積している条件ファイル蓄積手段と、該条件ファイル蓄積手段に蓄積された条件ファイルから任意の条件ファイルを指定する条件ファイル指定手段と、を備え、前記条件ファイル指定手段で指定された条件ファイルから、試験対象の試験片に対応するパラメータを読み出して前記計測制御装置に転送することにより、該計測制御装置のパラメータを試験片に応じて逐次設定するようにしたことを特徴とする材料試験機用制御装置。

IPC (2件)：

G01N 3/02 ,  G01N 3/06

FI (2件)：

G01N 3/02 Z ,  G01N 3/06

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開平1-209340
  
• 半導体試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-034189   出願人：株式会社アドバンテスト

審査官引用 (2件)

• 特開平1-209340
  
• 半導体試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-034189   出願人：株式会社アドバンテスト