特許
J-GLOBAL ID：200903027752724610
びんの光学式検査方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 内田 博
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-554702
公開番号（公開出願番号）：特表2004-517319
出願日： 2001年12月18日
公開日（公表日）： 2004年06月10日
要約：
本発明は、1つのびんまたは1つのびん部分の像を撮影するための少なくとも1つのカメラと、および少なくとも1つのびんまたは1つのびん部分を照明する少なくとも1つの照明ユニットとを含む検査ステーション内のびんの光学式検査方法および装置に関するものである。この装置および方法は、ただ1つの検査ステーション内に、相互にできるだけ接近した時間に行われる複数の検査ステップが設けられていることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
1つのびん(1)または1つのびん部分(2、5)の像を撮影するための少なくとも1つのカメラ(9、10)と、少なくとも1つのびん(1)または1つのびん部分(2、5)を照明する少なくとも1つの照明ユニット(11、12、13)とを含む検査ステーション(18)内のびん(1)の光学式検査装置において、
検査ステーション(18)内の少なくとも2つの検査ステップ用装置が、相互にできるだけ接近した異なる時間において検査ステップが行われるように設けられていることを特徴とする、びんの光学式検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
2G051AA12
, 2G051AA13
, 2G051AA15
, 2G051AB01
, 2G051AB03
, 2G051BA20
, 2G051BB02
, 2G051BC01
, 2G051BC02
, 2G051CA03
, 2G051CA07
, 2G051CB05
, 2G051DA06
, 2G051DA13
