特許
J-GLOBAL ID：200903027805472589
実部信号成分と虚部信号成分を用いた示差分析のための装置および方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢野 敏雄 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-500986
公開番号（公開出願番号）：特表平10-504381
出願日： 1995年05月22日
公開日（公表日）： 1998年04月28日
要約：
【要約】本発明は、示差分析方法および装置に関する。この場合、試料と基準物質に対し、等しい期間の2つ以上の直線的なセグメントから成る温度プログラムに従い、温度変化のような外部で加えられる撹乱を受けさせ、測定された差分信号を処理して、信号においてエネルギーストレージ部分とエネルギーロス部分にそれぞれ係わる実部成分と虚部成分を形成する。
請求項（抜粋）：
示差分析装置において、 試料を保持する手段および基準物質を保持する手段と、 試料用の前記手段における試料と基準物質用の前記手段における基準物質に対し、等しい期間の少なくとも2つの直線的なセグメントから成る温度プログラムに従い外部で加えられる撹乱を受けさせる手段と、 選択された回数だけ温度プログラムを反復させる手段と、 前記温度プログラムに従い外部で加えられる撹乱を受けた試料と基準物質から得られる差分信号を表すデータを受け取る手段と、 前記データを処理して、前記試料の少なくとも1つの特性パラメータを供給し、前記少なくとも1つのパラメータを、該少なくとも1つのパラメータにおいてエネルギーストレージ部分に関する成分とエネルギーロス部分に関する成分とに分離する手段とが設けられていることを特徴とする、 示差分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 25/20 A
, G01K 17/00 Z
審査官引用 (1件)
-
熱分析装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平5-238408
出願人：セイコー電子工業株式会社
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