特許

J-GLOBAL ID：200903027857974213

X線異物検査装置

発明者： 後藤 武
出願人/特許権者： 株式会社エルコ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-044552
公開番号（公開出願番号）：特開平10-206352
出願日： 1997年01月23日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：

【要約】【課題】 構成が簡単で被検査物内に混入する各種の異物を高速でかつ精度よく検出できるようにする。【解決手段】 被検査物にX線を照射するX線源と、この被検査物をX線が照射され位置に搬送する搬送手段と、該被検査物を透過したX線を受け透視画像を可視画像に変換する蛍光板と、該蛍光板に得られた可視画像を撮像し電気信号に変換する撮像カメラと、この撮像カメラからの電気信号を受け異物検出のための画像処理を行なう画像処理装置から構成される。また、蛍光板に得られた可視画像を反射させて撮像カメラに与える回転可能の反射手段と、この反射手段を被検査物の移動と同期して回転させる駆動手段とを設け、撮像カメラの露光時間を長く設定したことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

被検査物にX線を照射するX線源と、該被検査物をX線が照射され位置に搬送する搬送手段と、該被検査物を透過したX線を受け透視画像を可視画像に変換する蛍光板と、該蛍光板に得られた可視画像を撮像し電気信号に変換する撮像カメラと、この撮像カメラからの電気信号を受け異物検出のための画像処理を行なう画像処理装置からなるX線異物検査装置。

IPC (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01V 5/00

FI (3件)：

G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01V 5/00 A