特許
J-GLOBAL ID：200903027859390014
性能評価方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-122733
公開番号（公開出願番号）：特開2000-311186
出願日： 1999年04月28日
公開日（公表日）： 2000年11月07日
要約：
【要約】【課題】 性能評価のための設計工数を短くし、シミュレーションの時間をより短縮可能とする。【解決手段】 LSIのハードウェア構造の性能を評価するための性能評価モデルに関する記述を、ハードウェア構造の機能を表現しているアルゴリズム部分とハードウェア構造の性能に影響を及ぼすアーキテクチャ部分とに分離し、アルゴリズム部分の記述とアーキテクチャ部分の記述とに基づいて、ハードウェア構造の性能を評価する。また、分離されているアルゴリズム部分とアーキテクチャ部分とを関連付けるインターフェイスとしてモードMを設定している。
請求項（抜粋）：
ハードウェア構造を計算機により演算可能な記述としてモデル化し、当該モデル化したハードウェア構造の性能を当該計算機を用いて評価する性能評価方法において、上記ハードウェア構造の性能を評価するための性能評価モデルに関する記述を、上記ハードウェア構造の機能を表現しているアルゴリズム部分と上記ハードウェア構造の性能に影響を及ぼすアーキテクチャ部分とに分離し、上記アルゴリズム部分の記述とアーキテクチャ部分の記述とに基づいて、上記ハードウェア構造の性能を評価することを特徴とする性能評価方法。
Fターム (3件)：
5B046AA08
, 5B046BA02
, 5B046JA04
