特許

J-GLOBAL ID：200903027872674129

界面測定装置

発明者： 森田 晃
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-307322
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116189
出願日： 2000年10月06日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：

【要約】【課題】 沈殿物の深さ方向の濃度分布を簡単,かつ高精度に計測できるようにする。【解決手段】 液中に沈殿物が層をなして沈殿する沈殿槽1内の送信用振動子Sから、超音波を照射して複数の受信用振動子R1〜R7でその超音波を受信するに当たり、超音波を沈殿槽1の鉛直方向に対し斜め方向から照射して各界面121〜124からの受信波を互いに異なる複数の位置で受信すると、各位置での受信波の強度分布(黒く塗りつぶした楕円)と時間(沈殿槽1の深さ)との関係が例えば線Bのように表わされるので、この線Bの直線A(沈殿物が無い場合の特性)に対する曲がり具合から、各沈殿汚泥層21〜24の濃度分布を計測可能とする。

請求項（抜粋）：

液面近傍の液中で超音波パルスを送受信する複数の超音波振動子のうちの1つを送信用、残りを受信用として直線状に配置し、送信用超音波振動子から沈殿槽へ向けて超音波パルスを放射し、受信用超音波振動子でその反射パルスを受信し、その受信信号にもとづき沈殿槽の状況を測定可能な界面測定装置であって、前記送信用超音波振動子から放射する超音波パルスを、前記沈殿槽の鉛直方向に対して斜め方向とすることを特徴とする界面測定装置。

IPC (4件)：

G01N 29/02 ,  G01F 23/28 ,  G01N 29/18 ,  E03F 5/14

FI (4件)：

G01N 29/02 ,  G01N 29/18 ,  E03F 5/14 ,  G01F 23/28 S

Fターム (11件)：

2D063DB00 ,  2F014AA07 ,  2F014AB01 ,  2F014FB01 ,  2G047AA02 ,  2G047BA03 ,  2G047BB02 ,  2G047BC02 ,  2G047CA01 ,  2G047EA00 ,  2G047GA14