特許

J-GLOBAL ID：200903027882343015

光学的測定装置

発明者： 田窪 健二
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (2件)： 鹿島 義雄 ,  甲斐 寛人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-241907
公開番号（公開出願番号）：特開2006-058196
出願日： 2004年08月23日
公開日（公表日）： 2006年03月02日
要約：

【課題】 液体試料に含まれる粒子等の高感度な測定が可能な光学的測定装置を提供する。【解決手段】 光源16と、電源15と、液体試料を保持する容器11と、容器内の液体試料と接する位置に形成され、光源16から光が照射されることにより基本回折光パターンを生じる回折格子13a、13b、14a、14bと、この回折格子の少なくとも一部を構成するとともに、電源15から正負の電圧を印加することが可能な電極対13、14と、回折格子による回折光を検出する光検出器18とを備え、電極対13、14に電圧を印加して液体試料の屈折率分布を変化することにより、基本回折光パターンとは異なる変形回折光パターンを発生させ、変形回折光パターンに基づいて液体試料に関する情報を計測する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光源と、電源と、液体試料を保持する容器と、容器内の液体試料と接する位置に形成され、光源から光が照射されることにより基本回折光パターンを生じる回折格子と、回折格子の少なくとも一部を構成するとともに、電源から正負の電圧を印加することが可能な電極対と、前記回折格子による回折光を検出する光検出器とを備え、 電極対に電圧を印加して液体試料の屈折率分布を変化させることにより、基本回折光パターンとは異なる変形回折光パターンを発生させ、変形回折光パターンに基づいて液体試料に関する情報を計測することを特徴とする光学的測定装置。

IPC (5件)：

G01N 15/00 ,  G01N 15/06 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/47 ,  G01N 27/447

FI (5件)：

G01N15/00 A ,  G01N15/06 C ,  G01N21/27 C ,  G01N21/47 A ,  G01N27/26 331Z

Fターム (10件)：

2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK01 ,  2G059MM04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• センサデバイス
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2001-538783   出願人：ファーフィールド・センサーズ・リミテッド