特許
J-GLOBAL ID:200903027925605469
固体表面の凹凸パターン検出方法、同検出装置、並びに同検出方法及び同検出装置に用いるのに適した集積回路装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
,
,
,
,
,
,
,
代理人 (1件):
長谷 照一 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-266897
公開番号(公開出願番号):特開2000-097690
出願日: 1998年09月21日
公開日(公表日): 2000年04月07日
要約:
【要約】【課題】 指紋などの固体表面の凹凸パターンを簡単かつ精度よく検出できるようにする。【解決手段】 集積回路装置10内にて同一平面上に複数の発熱体10aを配置し、パルス電源11から各発熱体10aに対して独立してパルス電流を通電することにより各発熱体10aを加熱する。このような集積回路装置10の上表面に指12を押し当てれば、指紋の山部12aは前記上表面に接し、指紋の谷部12bと前記上表面の間には空間が形成されるので、各発熱体10aに対する山部12aと谷部12bの熱伝導率が相違し、前記通電開始から所定時間後における山部12aと谷部12bに対向した発熱体10aの温度には違いが現れる。したがって、この温度を検出して、同検出温度に基づいて2値データを作成すれば、指紋の山部12aと谷部12bとを表すデータを簡単に作成することができる。
請求項(抜粋):
複数の発熱体を同一平面内に配置した集積回路装置を用い、同集積回路装置の前記平面に対向した上表面に押し当てた固体表面の凹凸パターンを検出する方法において、前記複数の発熱体にパルス電流をそれぞれ通電して加熱するとともに同通電開始から所定時間後における前記複数の発熱体の各温度をそれぞれ検出し、前記検出された複数の発熱体の各温度の相違により固体表面の凹凸パターンを検出するようにしたことを特徴とする固体表面の凹凸パターン検出方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01B 21/20 Z
, G01N 25/72 G
Fターム (32件):
2F069AA60
, 2F069AA64
, 2F069BB40
, 2F069DD26
, 2F069DD27
, 2F069GG01
, 2F069GG16
, 2F069GG68
, 2F069JJ02
, 2F069JJ23
, 2F069JJ27
, 2F069NN08
, 2G040AA08
, 2G040AB08
, 2G040BA25
, 2G040CA02
, 2G040CB04
, 2G040DA02
, 2G040DA12
, 2G040DA15
, 2G040DA22
, 2G040EA02
, 2G040EA11
, 2G040EA13
, 2G040EB02
, 2G040EC02
, 2G040FA01
, 2G040FA10
, 2G040GB03
, 2G040HA02
, 2G040HA08
, 2G040HA16
引用特許:
前のページに戻る